तपाईं हाम्रो कारखानाबाट E4991B प्रतिबाधा विश्लेषकहरू किन्नको लागि ढुक्क हुन सक्नुहुन्छ। E4991B प्रतिबाधा विश्लेषक 1 MHz देखि 3 GHz को फ्रिक्वेन्सी दायराको साथ, फराकिलो प्रतिबाधा दायरामा 0.65% आधारभूत शुद्धता, तापमान विशेषताहरू विश्लेषणको लागि सामग्री मापन विकल्पहरू र प्रत्यक्ष पढ्ने क्षमता र perme कार्यक्षमता।
तपाईं हाम्रो कारखानाबाट E4991B प्रतिबाधा विश्लेषकहरू किन्नको लागि आश्वस्त हुन सक्नुहुन्छ। E4991B प्रतिबाधा विश्लेषक 1 MHz - 3 GHz
Keysight E4991B प्रतिबाधा विश्लेषक इलेक्ट्रोनिक कम्पोनेन्टहरू, सेमीकन्डक्टर उपकरणहरू, र सामग्रीहरू चित्रण र मूल्याङ्कन गर्नको लागि उत्तम समाधान हो।
तीन अपग्रेड गर्न मिल्ने फ्रिक्वेन्सी विकल्पहरू: 1 MHz देखि 500 MHz/1 GHz/3 GHz
आधारभूत शुद्धता ±0.65% र 120 mΩ देखि 52 kΩ प्रतिबाधा दायरा (10% मापन सटीकता दायरा)
मापन प्यारामिटरहरू: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, Vac, Iac, Vdc1, Idc1 (1. विकल्प 001 आवश्यक छ)
बिल्ट-इन DC पूर्वाग्रह (विकल्प 001): ० V देखि ± 40 V, 0 A देखि ± 100 mA
टच स्क्रिनको साथ १०.४ इन्च रङ LCD मा ४-च्यानल र ४-ट्रेस
डाटा विश्लेषण प्रकार्य: बराबर सर्किट विश्लेषण, सीमा रेखा परीक्षण
डाइलेक्ट्रिक/चुम्बकीय सामग्री मापन (विकल्प 002): |εr |, εr', εr', tanδ(ε), |μr |, μr', μr', tanδ(μ)
तापक्रम विशेषताहरू मापन (विकल्प 007) र भरपर्दो अन-वेफर मापन (विकल्प 010) क्षमताहरू
सामग्री मापन विकल्पहरूले तापमान विशेषताहरू विश्लेषण क्षमता (विकल्प 007) र अनुमति र पारगम्यताको प्रत्यक्ष पढ्ने प्रकार्य (विकल्प 002) प्रदान गर्दछ।
प्रोब स्टेशन जडान किट (विकल्प 010) ले 3 GHz सम्मको सही अन-वेफर वा माइक्रो-कम्पोनेन्ट प्रतिबाधा मापन समाधान प्रदान गर्दछ।
E4991B ले मापन सरल र भरपर्दो बनाउन डिजाइन गरिएको परीक्षण सामानहरूको विस्तृत विविधतालाई समर्थन गर्दछ।
चाहे तपाईं R&D, QA वा निरीक्षणमा हुनुहुन्छ, E4991B इलेक्ट्रोनिक कम्पोनेन्टहरू, सेमीकन्डक्टर उपकरणहरू र सामग्रीहरूको विशेषता र मूल्याङ्कन गर्नको लागि एक आदर्श समाधान हो।
सामग्रीको मापनको लागि, E4991B ले N1500A-005 सामग्री मापन सुइटसँग काम गर्छ र सेटअप फिक्स्चरदेखि रिपोर्ट जेनरेशनसम्मको सहज मापन (1 GHz सम्म) प्रदान गर्दछ।
| अतिरिक्त जानकारी: | RF IV, सटीक प्रतिबाधा मूल्याङ्कनका लागि उपयुक्त समतुल्य सर्किट विश्लेषण (7 मोडेल) सामाग्री मापन। (opt. 002) तापक्रम विशेषता परीक्षण (opt. 007) On-wafer impedance meas। प्रोब स्टेशनको साथ (opt. 010) 4 च्यानलहरू, 4 ट्रेसहरू |
| आधारभूत शुद्धता: | ०.६५% |
| DC पूर्वाग्रह: | ० V देखि ± 40 V, 0 A देखि ± 100 mA (विकल्प 001) |
| आवृत्ति: | 1 MHz देखि 500 MHz/1 GHz/3 GHz |
| अधिकतम आवृत्ति: | ३ GHz |
| मापन: | RF-IV विधि |
| मापन दायरा(शुद्धता <10%): | 120 mΩ देखि 52 kΩ |
| अन्य सुविधाहरू: | समतुल्य सर्किट विश्लेषण, सीमा रेखा परीक्षण, आदि। डाइलेक्ट्रिक/चुम्बकीय सामग्री मापन (विकल्प 002), तापक्रम विशेषताहरू मापन (विकल्प 007), |
| विशेष सुविधाहरू: | n/a |
| लक्ष्य DUT: | सामान्य उद्देश्य उपकरण सामग्री |
| प्रकार: | प्रतिबाधा विश्लेषक |
